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詳細介紹
| 偏光顯微鏡熔點儀 XPN-300 |
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| 3.放大倍數：40X 100X 400X 600X 系統放大倍數：40X-2600X 4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調 5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路 6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調 7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm） λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm） 石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級） 8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm 9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調） 10.防霉：*的防霉系統 | ||||
| 四、偏光熔點測定儀 | ||||
| 1.偏光熔點測定儀 在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。 2.顯微加熱平臺 可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 起始溫度室溫 工作區加熱使用面積至少1X1cm 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC 透光區域 2mm以上，可調 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 熱臺可以隨載物臺移動 熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡 | ||||
| 五、系統組成： | ||||
| 電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300E）： 1、顯微鏡 2、熔點儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機 數碼相機型高精度偏光顯微鏡（XPN-300Z）：1、顯微鏡 2、熔點儀 3、數碼相機 | ||||
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| 六、選購件： | ||||
| 1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡：20X | ||||
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