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研削磨輪

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  • 型號 Poligrind
  • 品牌
  • 廠商性質 生產商
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更新時間:2021-10-08 09:51:47瀏覽次數:680

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產品簡介

實現高品質的晶圓背面研削加工加工對象:Siliconwafer,etc通過在縱向切入式(In-Feed)研削機的精加工研削軸(Z2軸)上使用Poligrind(拋光性研削磨輪),在不需要增加新設備及改變現有生產方式的前提下,就可改善晶圓的精加工表面粗糙度和抗彎強度,獲得更高的加工品質

詳細介紹

實現高品質的晶圓背面研削加工

加工對象: Silicon wafer, etc

通過在縱向切入式(In-Feed)研削機的精加工研削軸(Z2軸)上使用Poligrind(拋光性研削磨輪),在不需要增加新設備及改變現有生產方式的前提下,就可改善晶圓的精加工表面粗糙度和抗彎強度,獲得更高的加工品質。

  • 能夠在現有縱向切入式研削機上安裝使用。
  • 能夠在不改變原有加工方式的前提下,提高抗彎強度等加工品質。
  • 與現有的Z2軸(精加工研削)用磨輪相比,實現了高品質的精加工表面。
  • 對應高負荷研削。

實驗結果

于現有的Z2 軸(精加工研削)用磨輪相比較,有望提高抗彎強度和表面粗糙度等加工品質。

抗彎強度(球抗彎)

抗彎強度(球抗彎)

翹曲度

Poligrind
Fine grinding wheel Poligrind
Warpage level 3.5 mm
Workpiece 8" silicon mirror wafer
Z2 removal amount 35 µm
Final thickness 50 µm
#2000 B-K09
Fine grinding wheel #2000 B-K09
Warpage level 14.0 mm
Workpiece 8" silicon mirror wafer
Z2 removal amount 35 µm
Final thickness 50 µm

表面粗糙度

Poligrind
Fine grinding wheel Poligrind
Ra (µm) 0.009
Rmax (µm) 0.065
Workpiece 8" silicon mirror wafer
Measurement system Non-contact high-resolution surface profile measurement system
#2000 B-K09
Fine grinding wheel #2000 B-K09
Ra (µm) 0.015
Rmax (µm) 0.081
Workpiece 8" silicon mirror wafer
Measurement system Non-contact high-resolution surface profile measurement system

技術規格

技術規格

Poligrind(拋光性研削磨輪)的使用注意事項

為了獲得更好的加工品質,需要重新設定加工條件。為此本公司的應用技術工程師將會根據具體的加工物和加工要求,竭誠為客戶提供加工方案。


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