Microchip 53100A相位噪聲分析儀

概述
53100A相位噪聲分析儀可以測量**RF信號源的幅度、相位和頻率穩定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關于您被測設備的任何穩定性特性，時間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨使用還是集成到自動化測試系統中，小巧的外形和業界良好的測量速度使得51300A可以適用于大多數應用。
繼承并擴展了3120A和51XXA系列儀器的優點，53100A可以以*低的成本來****地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進地設計和制造工藝進步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。
特點
信號輸入和參考輸入，頻率范圍1MHz到200MHz
沒有相位鎖定和不需要測量校準
單或雙參考振蕩器輸入允許互相關測量
TSC 51XXA命令和數據流仿真功能減少了重寫現有測試腳本的負擔
直觀的圖形界面使用戶能夠**開始測量
測量
亞皮秒精度相位和頻率差的實時帶狀圖
**頻率計數精度每秒鐘13位以上，可到17位
ADEV典型值<5E-14（1秒）
可以測量MDEV、HDEV、TDEV
相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz載波）
時間抖動、殘余FM調頻和SSB載波/噪聲比率

在Windows系統上使用**的基于電腦的DSP技術，所有這些測量都可以同時進行。您可以查看、保存、比較、打印和導出各種格式數據，包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源，參考源頻率為1MHz到200MHz，儀器本身不需要校準。

規格（25℃環境），除非備注其他溫度
性能
頻率范圍1到200MHz
ADEV<7E-14 (1秒)
<5E-16(1000秒)
相位噪聲規格
偏移頻率范圍：0.001Hz到1MHz