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狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

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更新時(shí)間：2023-10-13 10:43:55瀏覽次數(shù)：358次

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狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測(cè)器，3.5mm狹縫，1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長(zhǎng)
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狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測(cè)器，3.5mm狹縫，1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長(zhǎng)。 該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸，近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率，可選的功率測(cè)量功能等特徵，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合於對(duì)UV，VIS和NIR雷射進(jìn)行全面分析。
  • 光束尺寸7µm至?2.3mm
  • 功率級(jí)範(fàn)圍為?10nW至?10W
  • USB 2.0介面
  • 包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟體
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 主要參數(shù)
  • Wavelengths：190-1100nm
  • Beam Sizes：7μm - 2.3mm
  • Interface：USB 2.0
  • Sensor Type：Silicon
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed >25kHz
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀狹縫掃描式小光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

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