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更新時間:2025-04-12返回產品中心
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HR型X射線異物檢測機
側照射式X射線異物檢測機
M6-h系列金屬探測器異物檢測機
下落式型金屬探測器異物檢測機
M系列金屬探測器異物檢測機
IX-G2X射線異物檢測機
IX-GAX射線異物檢測機
Cosmo-One系列金屬檢測機異物檢測機
TXP-5150FDX射線無損檢測系統
TXV-CH4090FDX射線無損檢測系統
SU-021晶體方位測量裝置
SU-003晶體方位測量裝置
SU-001晶體方位測量裝置
TXV-S4090FD非破壞檢測系統
TXV-S4130FD非破壞檢測系統
TXS-30900FD非破壞檢測系統
TXS-31300FD非破壞檢測系統
TXS-32300FD非破壞檢測系統
TXS-33000FD非破壞檢測系統
TOSCANER-34500FD非破壞檢測系統
TOSCANER-24500twin非破壞檢測系統
X-rayX射線螢光膜厚測量儀
M系列金屬探測器
下落式型金屬探測器
M6-h系列金屬探測器
XR75系列X射線異物檢測機
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